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吉时利(Keithley)
半导体参数分析仪
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Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
使用 4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

1. 生物传感器检定  

2. 飞法电容测量  

3. 半导体和 NVM 可靠性   

4. 提供适合高阻抗应用的 C-V 测量功能  

5. 使用长电缆或电容式夹具时进行测试    

6. 材料电阻率   

7. MOSFET 检定


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