半导体参数分析仪-浙江嘉测电子设备有限公司

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200···

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Keithley PCT参数波形记录仪

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记···

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Keithley 参数化测试系统

当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）要求进行参数测试，以便最大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及最大限度降···

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Keithley 700 系列半导体开关系统

半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主···

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Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件

吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至简单的功能测试。ACS 支···

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Edison 功率模块动态特性测试系统

Edison功率模块动态特性测试系统，主要用于不同封装功率模块的动态参数特性测试，可兼顾电控单元以及To247单管的动态测试。可以同···

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