【4200 SMU应用实例篇】支持千倍以上负载电容的灵敏测试
时间:2023-12-23

使用长电缆或电容夹头的测试设置会增加测试仪器输出的电容,导致测量结果不准确或不稳定。当输出或扫描直流电压并测量异常灵敏的低电流时,能观察到这种效应。为了应对这些挑战,泰克为吉时利4200A-SCS参数分析仪引入了两个新的源测量单元(SMU)模块,即使在测试连接电容较高的应用中,该模块也可以进行稳定的低电流测量。


节能的要求越来越高,这就需要越来越低的电流,这是一个日益严峻的测量挑战,如测试智能手机或平板电脑的大型LCD面板。高电容测试连接可能会出现问题的应用,还包括:探卡上的纳米FET I-V测量,使用长电缆的MOSFET的传输特性,开关矩阵的FET测试以及电容泄漏测量


支持1000倍以上的电容


与其他灵敏SMU相比,新的吉时利4201中功率SMU和4211高功率SMU(带有可选的4200-PA前置放大器)提升了最大负载电容。在最低支持电流范围内,4201-SMU和4211-SMU可以提供和测量的系统电容是目前SMU容量的1000倍。例如,如果电流在1至100pA之间,则新的吉时利模块可以处理高达1µF(微法拉)的负载。相比之下,在不降低测量精度的情况下,同类产品的最大负载电容在该电流水平上的承受能力仅为1,000pF。

对于面临这些问题的客户,新模块是很宝贵的补充,不仅节省排除故障的时间,还可以节省开支。当测试工程师或研究人员发现测量错误时,他们首先需要追踪其来源。这本身可能需要花费大量时间,并且他们还需要先探索许多可能的原因,然后才能缩小范围。一旦发现原因是系统电容,就必须调整测试参数,电缆长度,甚至重新安排测试设置。这不是理想选择。




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